JLT-MVLC濾波組件的雷電沖擊試驗
JLT-MVLC濾波組件是否能夠抗擊雷擊，對提高電能質量起著至關重要的作用，所以產(chǎn)品需要具備繞組過電壓試驗的能力。
雷電沖擊試驗下空心JLT-MVLC濾波組件內繞組過電壓分布空心電抗器由于同包封內同高度位置的層間繞組電位相等，因而雷電沖擊試驗主要考核的是繞組匝間的絕緣性能。在JLT-MVLC濾波組件高度方向上，繞組匝間電容分布均勻， 理論上繞組匝間的過電壓是均勻分布的，但對于高度較高的產(chǎn)品，由于下端繞組對下星型架（或均壓環(huán)）和地的電容、上端繞組對上星型架（或均壓環(huán)）的電容影響，將導致過電壓在繞組內的分布不均勻， 繞組中部電位梯度將高于兩端的電位梯度。
對于干式JLT-MVLC濾波組件產(chǎn)品，在制作時需控制高度，以確保繞組匝間電壓的分布均勻，對于特高電壓的產(chǎn)品，可考慮將一個繞組拆分為若干個繞組串聯(lián)，這樣不僅能保證絕緣設計的合理性，產(chǎn)品的散熱也能得到保障。高壓干式空心電抗器產(chǎn)品合理設置均壓環(huán)能有效改善電位分布，從而改善繞組匝間過電壓分布。
雷電威脅著用電的安全，所以JLT-MVLC濾波組件應加強防雷措施，是設計應考慮的一重要部分。
